Πλοήγηση ΤΕΙ Κρήτης / Tei of Crete ανά Επιβλέποντα καθηγητή "Bakarezos, Efthimios"
Αποτελέσματα 1-1 από 1
-
Ανάπτυξη τροποποιημένων τεχνικών ολογραφικής συμβολομετρίας ESPI για την μελέτη κανονικών τρόπων ταλάντωσης επιφανειών.
Τ.Ε.Ι. Κρήτης, Σχολή Εφαρμοσμένων Επιστημών (Σ.Εφ.Ε), Τμήμα Μηχανικών Μουσικής Τεχνολογίας και Ακουστικής Τ.Ε. (Ρέθυμνο)
Συγγραφείς:
Επιβλέπων καθηγητής:
Ημερομηνία δημοσίευσης: 20-10-2009Τεχνικές ολογραφικής συμβολομετρίας έχουν επιτυχημένα χρησιμοποιηθεί για τη μελέτη δονούμενων αντικειμένων και των κανονικών τρόπων ταλάντωσης αυτών. Στο Εργαστήριο Ακουστικής & Οπτικής Τεχνολογίας έχει αναπτυχθεί χρονικά ...