Ανάλυση μορφολογίας επιφάνειας με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης.

Surface morphology analysis by scanning electron microscopes.

dc.creator	Γλέζος, Παντελής	el
dc.creator	Glezos, Pantelis	en
dc.date.accessioned	2016-03-15T15:53:34Z
dc.date.available	2016-03-15T15:53:34Z
dc.date.issued	2012-12-04T11:35:20Z
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/20.500.12688/4016
dc.description.abstract	Ο σκοπός αυτής της εργασίας είναι αφενός η παρουσίαση των δυνατοτήτων ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης (S.E.M scanning electron microscope) και αφετέρου η ανάλυση διάφορων δειγμάτων σε σχέση με την μορφολογία και την σύσταση τους	el
dc.language	el
dc.publisher	Τ.Ε.Ι. Κρήτης, Τεχνολογικών Εφαρμογών (Σ.Τ.Εφ), Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών Τ.Ε.	el
dc.publisher	T.E.I. of Crete, School of Engineering (STEF), Department of Electrical Engineering	en
dc.rights	Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0)
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/
dc.title	Ανάλυση μορφολογίας επιφάνειας με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης.	el
dc.title	Surface morphology analysis by scanning electron microscopes.	en

heal.creatorName	Γλέζος, Παντελής	el
heal.creatorName	Glezos, Pantelis	en
heal.publicationDate	2012-12-04T11:35:20Z
heal.identifier.primary	http://hdl.handle.net/20.500.12688/4016
heal.abstract	Ο σκοπός αυτής της εργασίας είναι αφενός η παρουσίαση των δυνατοτήτων ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης (S.E.M scanning electron microscope) και αφετέρου η ανάλυση διάφορων δειγμάτων σε σχέση με την μορφολογία και την σύσταση τους	el
heal.language	el
heal.academicPublisher	Τ.Ε.Ι. Κρήτης, Τεχνολογικών Εφαρμογών (Σ.Τ.Εφ), Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών Τ.Ε.	el
heal.academicPublisher	T.E.I. of Crete, School of Engineering (STEF), Department of Electrical Engineering	en
heal.title	Ανάλυση μορφολογίας επιφάνειας με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης.	el
heal.title	Surface morphology analysis by scanning electron microscopes.	en
heal.type	bachelorThesis
heal.advisorName	Κουδουμάς, Εμμανουήλ	el
heal.advisorName	Koudoumas, Emmanouil	en
heal.academicPublisherID	teicrete
heal.fullTextAvailability	true
tcd.distinguished	false
tcd.survey	false

Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0)